東洋電子技研株式会社

ＹＳエレクトロニクス株式会社

実装基板上でのIC検査治具 　　　　　　　　　　　　　　 　ICの性能評価を行う際、他の部品を全て実装状態で評価試験が可能となるIC検査治具です。

高機能基板検査用治具 　　　　　　　　　　　　　　 　この治具は、基板上のICソケットのプローブの信号を2分岐することにより、実動作での検査および 　解析を可能にした事例です。