東洋電子技研株式会社

ＹＳエレクトロニクス株式会社

◆特許技術を応用した独創的な製品群でお客様のご要望にお応えしています   　製品分類 この分類は一例です。基板、デバイス検査用に限らず、ピン単体からユニット治具まで、また設計から製造までトータ ルでサポート致します。漏れ電流の測定治具、プローブカード(同軸型４端子プローブ使用)等も実績がございますのでご 相談下さい。 　　　　　　　　　　　　 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　   　製品一覧 　詳細は写真または赤字＆青字をクリックして下さい。 　　 　　　 　 　　 　　 　　 ケルビン測定が可能な特許取得の 同軸型４端子型、0.15〜0.2ｍｍ 対応可能なスーパーファインピッチ など、オリジナルプローブが充実。 >>同軸型４端子 >>ペンシル型 >>大電流 >>スーパーファイン >>両端コンタクト 接触接点技術〈特許〉、５層ハウジング構成、自社オリジナルプローブピンにより、安定した電気接続、 優れたメンテナンス性、耐久性を 実現。 >>高密度基板検査用治具 >>高機能基板検査用治具 ICの性能評価を行う際、他の部品を全て実装状態で評価試験が可能となるIC検査治具です。 >>実装基板上でのIC検査治具 >>高機能基板検査用治具 　　 　　 　　 デバイス検査用ICソケットは、テストターゲットの機器により、ケルビン測定用から映像用まで各種ご用意。カスタムも充実しています。 >>ケルビン測定ソケット >>カスタム　ソケット >>ＰＯＰ（パッケージ・オン・ 　パッケージ）用ソケット >>インターポーザ 　（ピッチ変換アダプター） >>チップ測定ソケット治具 >>デバイス検査用コンタクト治具 デバイス検査用ユニット治具は、 ファインピッチデバイス、コネクタ、測定器付きモジュール、信号 リレー等様々な検査用途に対応致 します。 >>ファインピッチデバイス 　検査ユニット >>コネクタ検査用ハンドラー 　取付治具 >>エアープレス機構測定器付き 　モジュール検査治具 >>信号リレー検査用治具 基板の機能検査に使用する治具で、お客様の仕様に合わせ製作致します。 >>ファンクションテスター用治具