東洋電子技研株式会社

ＹＳエレクトロニクス株式会社

高密度基板検査用治具 　　　　　　　　　　　　　　 Ｖ−５００シリーズ 「接触接点技術（特許）」「５層ハウジング構成」「自社オリジナルプローブピン」 　 により、安定した電気接続、優れたメンテナンス性、耐久性を実現しています。 ・プローブ間ピッチは最小0.16mmまで可能と、ファインピッチです。 ・先端部の振れを抑える構造で、コンタクト位置精度が極めて高精度です。 ・プローブピン先端の、長さ・ストローク設計に高い自由度があります。 ・両端可動プローブピンを採用し、基板へのダメージを抑えています。 ・接触接点技術及び、５層ハウジング構成により、プローブピンの 　交換メンテナンスを容易にし、さらに製作時の短納期化も実現しました。 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　　　　 　　 　　　　　　　　　　　　　　 Ｖ−６００シリーズ（セパレート方式） Ｖ−５００シリーズの性能を活かし、さらに「インターポーザ技術（特許）」を応用して、 省スペース化を実現しました。 Ｖ−５００シリーズは従来型の検査治具を多岐に渡り、大幅に改善、改良した、基板検査治具です。 特に外観構成は、業界初のセパレート方式を採用している為、取り扱い、メンテナンス等が大変 容易で、更に治具の保管管理の際に、大幅な省スペース化を実現しています。 治具の保管収納スペース、保管コスト、廃棄コストにお困りのお客様に、自信をもってお勧め 致します。 お客様の利便性、トータルコストメリット、廃棄物の削減、を追求して開発した画期的な製品です。 ヘッドユニットはサイズ変更して交換が可能

高機能基板検査用治具 　　　　　　　　　　　　　　 Ｖ−４０００ＦＢ 「高機能基板（ビルドアップ基板、部品内蔵基板、モジュール基板）の低抵抗測定検査に最適です。 ・「自社オリジナル同軸型プローブピン（特許）」「接触接点技術（特許）」「ハウジング構成」 　　により、安定した低抵抗測定、優れたメンテナンス性、耐久性を実現しています。 ・プローブ間ピッチ：最小0.4mmまで可能。 　※コンパチプローブピンも混在可能 ・従来のような極細プローブピン２本を交換する負担が無く、メンテナンスが容易です。 ・先端部の振れを抑える構造で、コンタクト位置精度が極めて高精度です。 ・プローブピン先端部はφ0.10と極細のため、小型のパッドでもレジスト干渉をせずにコンタクト 　できます。 ・外部と内部の導体は独立して可動しますので、凹凸部分（ビアの窪みなど）にも確実にコンタクト 　できます。 　また、両端可動により、基板へのダメージも抑えています。 ・接触接点技術及び、５層ハウジング構成により、プローブピンの交換メンテナンスを容易にし、 　さらに製作時の短納期化も実現しました。